Technologie
Oferty Laboratoriów
Sieć laboratoriów
PSLBiW
Kontakt
Zarejestruj
Zaloguj
Właściwości badawcze
Szukaj
Analiza topografii powierzchni 3D w mikro- i nanometrowej skali pomiaru
Zespolona przenikalność elektryczna dla cienkich materiałów dielektrycznych (do ok. 3-4 mm)
Zespolona przenikalność elektryczna dla cienkich materiałów dielektrycznych (do ok. 3-4 mm)
Zespolona przenikalność elektryczna dla cienkich materiałów dielektrycznych dielektrycznych (do ok. 3-4 mm)
Terenowe pomiary parametrów pola elektromagnetycznego systemów radiokomunikacyjnych różnego przeznaczenia
Pomoc merytoryczna przy rozwiązywaniu problemów inwestycyjnych dotyczących instalacji stacji bazowych telefonii komórkowej
Ocena przedsięwzięć w zakresie stacji bazowych telefonii komórkowej
Badania torów radiowych w układach elektronicznych
Badania procesów komunikacji radiowej
Szybkie sferyczne pomiary parametrów urządzeń radiowych
Terenowe i laboratoryjne pomiary systemów radiokomunikacyjnych
Projektowanie i prototypowanie anten
Prace eksperckie w zakresie analizy rynku oraz opracowywania i wdrażania systemów RFID we wszystkich obszarach zastosowania
Szkolenia spersonalizowane do potrzeb odbiorców
Planowanie procesów automatycznej identyfikacji obiektów
Projektowanie, prototypowanie i testowanie urządzeń systemowych
Badania pojedynczych i wielokrotnych, pasywnych, półpasywnych i aktywnych systemów RFID w stanach statycznych i dynamicznych
Wyznaczanie parametrów urządzeń RFID pasma LF, HF i UHF
Obrazowanie powierzchni nano-elementów, nano-litografia, nano-manipulacja
Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów
Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła
Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych
Badania starzeniowe
Pomiary i charakteryzacja światłowodów jedno- i wielomodowych, źródeł światła i odbiorników, czujników optycznych i optoelektronicznych
1
Poprzednia
5
6
7
8
9
10
11
Następna
43