Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów

Właściwość badawcza

Oferty badawcze

Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC, PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych

Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów (W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000)

Laboratorium zintegrowanych mikro- i nanotechnologii elektronicznych HYBRID

Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów

Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów

Oferty badawcze

<p><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC,&nbsp;</span><span style="font-size: 1rem;"><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych</span></span></p>

<p><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC, </span><span style="font-size: 1rem;"><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych</span></span></p>