Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych

Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych

Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych
Właściwość badawcza
Oferty badawcze

<p><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC,&nbsp;</span><span style="font-size: 1rem;"><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych</span></span></p>

Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych (<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
Laboratorium zintegrowanych mikro- i nanotechnologii elektronicznych HYBRID
UE UE