Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła

Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła

Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła
Właściwość badawcza
Oferty badawcze

<p><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC,&nbsp;</span><span style="font-size: 1rem;"><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych</span></span></p>

Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła (<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
Laboratorium zintegrowanych mikro- i nanotechnologii elektronicznych HYBRID
UE UE