Laboratorium Badań i Kontroli Środowiska

Laboratorium Badań i Kontroli Środowiska

Uniwersytet Rzeszowski

Energooszczędne źródła światła (charakterystyki widmowe i oświetleniowe)
Energooszczędne źródła światła (charakterystyki widmowe i oświetleniowe)
widmo odbicia promieniowania elektromagnetycznego w zakresie widzialnym, spektrometr ze sferą całkującą, 300nm-900nm (badanie zakresu widmowego w którym pracuje źródło światła)
Procedura własna

Materiały i elementy elektroniczne
Materiały i elementy elektroniczne
Charakteryzacja elektryczna (pomiary niskoczęstotliwościowych szumów elektrycznych)
Procedura własna

Materiały organiczne i nieorganiczne
Materiały organiczne i nieorganiczne
Wyznaczanie zawartości metali ciężkich w próbkach z dokładnością do ppm/ppb (w zależności od metalu) (np. wyznaczanie zawartości ołowiu w próbkach roślinnych)
absorpcja atomowa
Procedura własna

Materiały przewodzące (półprzewodniki, metale, tkanki i małe obiekty biologiczne)
Materiały przewodzące (półprzewodniki, metale, tkanki i małe obiekty biologiczne)
obrazowanie SEM i skład chemiczny EDS (morfologia powierzchni SEM i skład chemiczny detektorem EDS)
Procedura własna

Materiały termoizolacyjne (polietylen, polistyren, piana PUR, drewno, ceramika budowlana, szkło budowlane, maty podłogowe termoizolacyjne, skalna wełna mineralna)
Materiały termoizolacyjne (polietylen, polistyren, piana PUR, drewno, ceramika budowlana, szkło budowlane, maty podłogowe termoizolacyjne, skalna wełna mineralna)
charakterystyka parametrów termoizolacyjnych: współczynnika przewodności cieplnej, oporu cieplnego, przenikania ciepła (wyznaczanie oporu cieplnego metodą termokonwersji promieniowania elektromagnetycznego)
Procedura własna

Powłoki na materiałach
Powłoki na materiałach
Metale - identyfikacja grubości i składu powłoki (wyznaczanie grubości warstw w zakresie do mikrometra, wyznaczanie składu warstw (max. rozmiary próbki: gr. x szer. x wys. - 2 cm x 20 cm x 27 cm))
metoda nieniszcząca EDXRF
Procedura własna

Struktury półprzewodnikowe HgCdTe/GaAs, HgCdTe/Si
Struktury półprzewodnikowe HgCdTe/GaAs, HgCdTe/Si
wykonywanie obliczeń na podstawie macierzy przewodnictwa elektrycznego w funkcji pola magnetycznego w zakresie słabych stałych pól magnetycznych od 0,01T do 1T (klasyczny efekt Halla, metoda van der Pauw, temp.77-300K); wyznaczanie parametrów transportu elektronowego na podstawie dyskretnego widma ruchliwości (DMSA) (parametry nośników prądu, wyznaczanie grubości złącza p-n wykonanego metodą trawienia jonowego, starzenie materiału półprzewodnikowego)
Procedura własna

Szkło budowlane, szkło solarne (pokrycia ochronne dla PV)
Szkło budowlane, szkło solarne (pokrycia ochronne dla PV)
wyznaczanie transmisyjności materiałów przezroczystych metodą elektryczną za pomocą symulatora promieniowania słonecznego (transmisyjność, absorpcja, odbicie)
Procedura własna

Urządzenia elektryczne i elektroniczne
Urządzenia elektryczne i elektroniczne
pomiary PEM (pomiary pola bliskiego oraz pomiary PEM w środowisku wewnętrznym i zewnętrznym)
Procedura własna

Własność przestrzeni pod kątem PEM
Własność przestrzeni pod kątem PEM
wpływ PEM na obiekty biologiczne (pochłanianie promieniowania elektromagnetycznego przez tkanki biologiczne (pomiary współczynnika SAR))
Procedura własna

UE UE