Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC, PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych
W zakresie parametrów mikroskopu sił atomowych SPM NT-MDT NTEGRA Prima
W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000
W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000
W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000
W zakresie parametrów komory klimatycznej Feutron KPK 400V
W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB
W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB
W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB
W zakresie parametrów urządzeń analizator widma optycznego Yokogawa AQ6370B, DSO90604A, Keysight N7785B, Keysight N7781B.