Technologie
Oferty Laboratoriów
Sieć laboratoriów
PSLBiW
Kontakt
Zarejestruj
Zaloguj
Właściwości badawcze
Szukaj
Badania pojedynczych i wielokrotnych, pasywnych, półpasywnych i aktywnych systemów RFID w stanach statycznych i dynamicznych
Wyznaczanie parametrów urządzeń RFID pasma LF, HF i UHF
Obrazowanie powierzchni nano-elementów, nano-litografia, nano-manipulacja
Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów
Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła
Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych
Badania starzeniowe
Pomiary i charakteryzacja światłowodów jedno- i wielomodowych, źródeł światła i odbiorników, czujników optycznych i optoelektronicznych
Analiza termiczna w stanach stacjonarnych i niestacjonarnych
Weryfikacja projektów i modeli termicznych;
Pomiary pól temperatury i emisyjności
Identyfikacja mikroorganizmów (jakościowa)
Określenie współczynnika kształtu
Pomiar wielkości cząstek wilgotnych i sklejających się
Pomiar rozkładu wymiarów cząstek stałych w powietrzu niezależnie od ich właściwości fizycznych i chemicznych
Pomiar gęstości objętościowej (pozornej) ciał stałych
Pomiar gęstości właściwej ciał stałych
Pomiar ciepła właściwego
Przewodnictwo cieplne i dyfuzyjność cieplna
Wyznaczenie współczynników rozszerzalności cieplnej liniowej
Wyznaczenie początku i końca przemian fazowych
Analiza wydzielanych gazów (EGA)
Ciepło właściwe badanego materiału
Różnicowa kalorymetria skaningowa (DSC)
1
Poprzednia
2
3
4
5
6
7
Następna
38