<p><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC, </span><span style="font-size: 1rem;"><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych</span></span></p>
<p><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">Mikro- i nano-układy/struktury elektroniczne LTCC, </span><span style="font-size: 1rem;"><span style="font-size: 14pt; font-family: Cambria, serif;">PCB, ink-jet, na podłożach elastycznych,tekstylnych</span></span></p>
Obiekt badawczy
Oferty badawcze
Pomiary i charakteryzacja światłowodów jedno- i wielomodowych, źródeł światła i odbiorników, czujników optycznych i optoelektronicznych
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów urządzeń analizator widma optycznego Yokogawa AQ6370B, DSO90604A, Keysight N7785B, Keysight N7781B.</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów urządzeń analizator widma optycznego Yokogawa AQ6370B, DSO90604A, Keysight N7785B, Keysight N7781B.</span></p>)
Analiza termiczna w stanach stacjonarnych i niestacjonarnych
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB</span></p>)
Weryfikacja projektów i modeli termicznych;
(<p><span style="font-size: 10pt; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB</span></p>)
(<p><span style="font-size: 10pt; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB</span></p>)
Pomiary pól temperatury i emisyjności
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów kamery termowizyjnej FLIR SC7600MB</span></p>)
Badania starzeniowe
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów komory klimatycznej Feutron KPK 400V</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów komory klimatycznej Feutron KPK 400V</span></p>)
Wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
Analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
Wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów profilometru optycznego Rtec UP-3000</span></p>)
Obrazowanie powierzchni nano-elementów, nano-litografia, nano-manipulacja
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów mikroskopu sił atomowych SPM NT-MDT NTEGRA Prima</span></p>)
(<p><span style="font-size: 14px; font-family: Cambria, serif;">W zakresie parametrów mikroskopu sił atomowych SPM NT-MDT NTEGRA Prima</span></p>)
