System diagnostyczny mikroelektronicznych struktur hybrydowych

Zakres realizowanych badań:

• pomiary pól temperatury i emisyjności;

• weryfikacja projektów i modeli termicznych;

• analiza termiczna w stanach stacjonarnych i niestacjonarnych;

• pomiary i charakteryzacja światłowodów jedno- i wielomodowych, źródeł światła i odbiorników, czujników optycznych i optoelektronicznych;

• badania starzeniowe;

• wykrywanie wad wykonania w strukturach elektronicznych;

• analiza powierzchni przy wykorzystaniu mikroskopii konfokalnej oraz techniki interferometrii białego światła;

• wykonywanie pomiarów topografii powierzchni 3D z rozdzielczością pionową rzędu nanometrów.

Główna aparatura kontrolno-pomiarowa systemu diagnostycznego:

• kamera termowizyjna FLIR SC7600MB;

• analizator widma optycznego Yokogawa AQ6370B;

• oscyloskop cyfrowy DSO90604A;

• scrambler synchroniczny Keysight N7785B;

• analizator polaryzacji Keysight N7781B;

• komora klimatyczna Feutron KPK 400V;

• profilometr optyczny Rtec UP-3000.