Mikroskop sił atomowych SPM NT-MDT NTEGRA Prima

Tryby pomiarowe AFM: kontaktowy, półkontaktowy, bezkontaktowy, przewodnictwo elektryczne, mikroskopia pojemnościowa, rozkład ładunku elektrycznego, rozkład pola magnetycznego, rozkład potencjału powierzchniowego, pomiar temperatury, przewodnictwa temperaturowego, sił tarcia, obrazowanie fazowe, STM, SNOM odbiciowy