Elektronowy mikroskop skaningowy (SEM) HITACHI S-3400N – powiększenie 5x do 100tys.x – do obserwacji powierzchni materiałów metalicznych, z możliwością obserwacji materiałów nieprzewodzących (niska próżnia) z systemem EDS i WDS do analizy składu chemicznego oraz EBSD umożliwiającym wyznaczenie tekstury materiałów, kierunków krystalograficznych pojedynczych kryształów, sporządzanie map orientacji krystalicznej, identyfikację faz oraz określanie morfologii faz - składników mikrostruktury.
