Dyfraktometr rentgenowski OD-EFG 2 (Pracownia P2)

Autorski dyfraktometr rentgenowski OD-EFG 2 znajduje zastosowanie w ocenie doskonałości struktury monokryształów różnych metali oraz nadstopów niklu w ich mikroobszarach – składnikach fazowych; kryształach γ i γ’.  W dyfraktometrze OD-EFG 2 zastosowano podwójny monochromator kształtujący wiązkę pierwotną promieniowania oraz lampę z anodą miedzianą o mocy 2600 W. Uzyskano mniejszą niż w typowych dyfraktometrach średnicę wiązki promieniowania rentgenowskiego ok 0,5 mm przy jednoczesnym utrzymaniu wysokiej intensywności tego promieniowania. Podstawowym parametrem określającym doskonałość struktury kryształów jest pomiar wartości kąta α – pomiędzy kierunkiem wyciągania i kierunkiem [001]. Za pomocą dyfraktometru OD-EFG 2 możliwe jest określanie pełnej charakterystyki doskonałości struktury krystalicznej w mikroobszarach monokryształów nadstopów niklu. Także ocena doskonałości struktury krystalicznej monokryształów innych metali np. złota, srebra, krzemu czy innych. Dyfraktometr OD-EFG 2 wyposażono dodatkowo w obrotowy goniometr oraz ruchomy stolik umożliwiający automatyczne skanowanie powierzchni próbek o złożonym kształcie.