Jarzeniowy spektrometr GDS GD PROFILER HR (Pracownia P2)

Urządzenie umożliwia analizę składu chemicznego, rodzaju i zawartości pierwiastków w materiałach przewodzących i nieprzewodzących; umożliwienie pełnej analizy składu chemicznego dyfuzyjnej warstwy wierzchniej do głębokości 150 μm.