Spektrometr ramanowski InVia Micro Raman Renishaw

Spektrometr InVia Micro Raman Renishaw umożliwia określenie wybranych właściwości chemicznych, fizycznych i strukturalnych na podstawie analizy rejestrowanych widm ramanowskich badanego obiektu. Pozwala na identyfikację materiałów, a także określenie informacji jakościowych i ilościowych na ich temat. Analiza ta może znaleźć zastosowanie w wielu obszarach, dla badania różnego rodzaju materiałów (np. materiałów węglowych, półprzewodników, polimerów, nanomateriałów i biomateriałów), badaniach biomedycznych obiektów biologicznych (np. komórek, tkanek, mikroorganizmów, białek, kwasów nukleinowych, lipidów), substancji chemicznych (np. substancje chemiczne, materiały farmaceutyczne), badania obiektów zabytkowych (jak obrazy i obiekty archeologiczne) i innych. Dzięki zastosowaniu trzech laserów wzbudzających sygnał o różnej długości fali elektromagnetycznej możliwe jest wykonywanie pomiarów dla szerokiej gamy próbek. Pomiary mogą być wykonywane zarówno dla próbek w stanie stałym (w tym proszków), jak i dla cieczy. Zautomatyzowany stolik mikroskopowy umożliwia rejestrację sygnału ramanowskiego w wybranych miejscach próbki, wykonywanie map spektralnych powierzchni próbki oraz pomiary w gradiencie głębokości. System umożliwia wykonywanie pomiarów z użyciem techniki SERS - powierzchniowo wzmocnionej spektroskopii ramanowskiej. Dzięki połączeniu spektrometru InVia Micro Raman Renishaw i mikroskopu sił atomowych Innova Bruker możliwe jest również wykonywanie pomiarów ramanowskich z jeszcze większą precyzją i dokładnością. Rozwiązanie to umożliwia również zbieranie informacji o topografii powierzchni z atomową rozdzielczością (dzięki zastosowaniu mikroskopu sił atomowych) i informacji na temat składu i właściwości chemicznych dzięki analizie zarejestrowanych widm ramanowskich. 

Podstawowe parametry techniczne i możliwości sprzętu:

- zakres pomiarowy od 100 cm^-1 do 4000 cm^-1 (Raman shift) czyli od 100 µm do 2,5 µm

- trzy lasery wzbudzające sygnał ramanowski:

·       długość fali 488 nm i mocy 50 mW, 

·       długość fali 633 nm i mocy 17 mW, 

·       długość fali 785 nm i mocy 100 mW, 

- dwie siatki dyfrakcyjne : 2400 linii/mm i 1200 linii/mm

- wysokorozdzielcza kamera CCD jako detektor sygnału

-badane próbki umieszczane na stoliku mikroskopowym mikroskopu konfokalnego  Leica DM 2500M zintegrowanego ze spektrometrem

·       obiektywy o powiększeniu 5x, 20x, 20x obiektyw dalekoogniskowy, 50x, 100x

·       rozmiar plamki lasera od 5 µm do 1 µm w zależności od wykorzystanego obiektywu

- możliwość badania próbek  umieszczanych na stoliku mikroskopu sił atomowych AFM Innova Bruker  (rozmiar plamki lasera około 0,2 µm)

- system zainstalowany na specjalistycznym stole antywibracyjnym

- możliwość pomiarów  punktowych (wybrane miejsce na powierzchni próbki), wykonywanie map na określonym obszarze powierzchni (krok 1 µm) oraz pomiarów w gradiencie głębokości  próbki (krok 0,1 µm)

- wyposażony w kriostat helowy umożliwiający wykonywanie pomiarów w obniżonej temperaturze

- możliwość wykonywania pomiarów z wykorzystaniem techniki SERS - powierzchniowo wzmocnionej spektroskopii ramanowskiej