Profilometr BRUKER Dektak XT

Profilometr BRUKER Dektak XT jest urządzeniem do bardzo precyzyjnych dwuwymiarowych badań powierzchni próbki. Pozwala na wykonanie wykresu profilu wysokości na zadanym odcinku, dzięki czemu oszacować można np. wysokość warstwy naniesionej na powierzchnię próbki, czy także zmierzyć jej chropowatość. Urządzenie wyposażone jest również w cyfrowy mikroskop optyczny, który pozwala precyzyjnie ustalić obszar badania.

Podstawowe parametry techniczne profilometru BRUKER Dektak XT:

- Maksymalna grubość próbki: 50 mm

- Maksymalna szerokość próbki: 200 mm

- Maksymalna ilość punktów pomiarowych na skan: 120,000

- Manualny ruch w osi X/Y w zakresie 100 mm

- Siła docisku rysika 1 – 15 mg

- Maksymalna długość skanu: 55 mm

- Maksymalna wartość w osi Z podczas skanu: 1 mm

- Rozdzielczość w osi Z: 1 Å (przy długości skanu 6,55  μm)

- Izolacja wibracyjna od otoczenia